技術文章
您現在所在位置:首頁 > 技術中心 > 影響奧林巴斯光譜儀射線強度的因素有哪些?

影響奧林巴斯光譜儀射線強度的因素有哪些?

 發布時間:2022-03-16 點擊量:103
  對奧林巴斯光譜儀射線強度有影響的因素是什麽呢?奧林巴斯光譜儀的定量分析是以熒光x光線的強度為根據的,影響光譜儀射線強度的因素會影響分析的精確度,以下是主要兩大影響因素:
 
  一、基體效應:
 
  基體效應包含吸收效應及加強效應。
 
  吸收效應包含基材對入射x光線的吸收及對熒光x光線的吸收。由於用射線激發試品時,不隻是作用於試品表層並且能穿透相應的厚度進入試品裏麵,並且試品裏麵分析元素形成的熒光x光線,也必須穿過相應厚度的試品才可以射出。在穿透過程中,這二種x光線都會因基材元素的吸收而使射線強度減弱,射線減弱會影響對分析元素的激發效率。
 
  假如入射x光線使基材元素激發所形成的熒光x光線的波長略短於分析元素的吸收邊,它會使分析元素形成二次熒光x光線,進而使分析元素的熒光x光線強度加強,這就是基材的加強效應。
 
  假如吸收效應占主導作用,則分析結果稍低,假如加強效應占主導作用,則分析結果較高。
 
  二、不均勻效應:
 
  不均勻效應就是指試品顆粒大小不均勻及試品表層光潔度對熒光x光線強度的影響。對粉末試品,大顆粒吸收效應強,小顆粒吸收效應弱,因而,要求顆粒粒度盡可能小一些,以減少對x光線的吸收。測短波x光線時,要求粒度在250目以上,測量波長超過0.2nm的長波x射線時,則粒度要求在400目以上。
 
  固體塊狀試樣一定要磨平拋光,粉末試樣要壓緊並使表層平滑。粗糙表層會使熒光x光線的強度明顯下降。測量短波x光線時,光潔度在1005m左右,測量長波x光線時,光潔度為20-50Mm。

m6米乐在线登录儀器(蘇州)有限公司(www.gswr.net)主營:奧林巴斯光譜儀,奧林巴斯手持光譜儀,伊諾斯便攜式光譜儀,奧林巴斯熒光光譜儀

傳真:0512-65634826

郵箱:sales@bestyiqi.com

地址:蘇州市高新區泰山路2號博濟科技創業園C座202室

版權所有 © 2022 m6米乐在线登录儀器(蘇州)有限公司   備案號:蘇ICP備20666834號-2  管理登陸  技術支持:化工儀器網  GoogleSitemap

在線客服 聯係方式 二維碼

服務熱線

18896733756

掃一掃,關注m6米乐在线登录